Olivier FAURAX

Journal of Circuits, Systems, and Computers : Security analysis of AES using functionality fault model

@InProceedings{of08,
author = {Olivier Faurax and Traian Muntean},
title = {Security analysis of AES using functionality fault model},
booktitle = {Journal of Circuits, Systems, and Computers (À paraître)},
year = {2008},
}

NordSec 2007 : Security of several AES implementations against delay faults

@InProceedings{ff07,
author = {Olivier Faurax and Julien Francq},
title = {Security of several AES implementations against delay faults},
booktitle = {Proceedings of the 12th Nordic Workshop on Secure IT Systems (NordSec 2007)},
isbn = {978-9979948346},
pages = {61-72},
year = {2007},
month = {October}
}

IOLTS 2007 : Robustness of circuits under delay-induced faults : test of AES with the PAFI tool (poster)

@InProceedings{ftfb07,
 author = {Olivier Faurax and Assia Tria and Laurent Freund and Frédéric Bancel},
 title = {Robustness of circuits under delay-induced faults : test of AES with the PAFI tool},
 booktitle = {13th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2007)},
 year = {2007},
 pages = {185-186},
 }

SAR-SSI 2007 : Security analysis and fault injection experiment on AES

@InProceedings{of07-2,
author = {Olivier Faurax and Traian Muntean},
title = {Security analysis and fault injection experiment on AES},
booktitle = {Actes de la 2ème Conférence sur la Sécurité des Architectures Réseaux et des Systèmes d'Information (SAR-SSI 2007)},
year = {2007},
month = {June}
}

JNRDM 2007 : PAFI : Outil d'analyse de circuit pour l'accélération de l'injection de fautes en simulation

Cet article a été publié aux JNRDM 2007. Voir le site web des JNRDM de l'année courante.

@InProceedings{of07,
author = {Olivier Faurax and Assia Tria and Laurent Freund and Frédéric Bancel and Traian Muntean},
title = {PAFI : Outil d'analyse de circuit pour l'accélération de l'injection de fautes en simulation},
booktitle = {Actes des 10èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique},
year = {2007},
month = {May}
}

PhD-forum DATE 2007 : Model and tools for the evaluation of circuit robustness against fault attacks (poster)

IWSOC 2006 (IEEE) : A generic method for fault injection in circuits (disponible chez IEEE)

Cet article a été publié à IWSOC 2006 (IEEE), au Caire, en Décembre 2006.

@InProceedings{of06-2,  
 author = {Olivier Faurax and Laurent Freund and Assia Tria and Traian Muntean and Frédéric Bancel},
 title = {A generic method for fault injection in circuits},
 booktitle = {IWSOC 2006: Proceedings of the 6th IEEE International Workshop on System-on-Chip for Real-Time Applications},
 year = {2006},
 isbn = {1-4244-0898-9},
 pages = {211-214},
 publisher = {IEEE Circuits and Systems Society},
 }	

JNRDM 2006 : Une méthode générique pour l'injection de fautes dans les circuits

Cet article a été publié aux JNRDM 2006. Voir le site web des JNRDM de l'année courante.

@InProceedings{of06,
author = {Olivier Faurax and Laurent Freund and Frédéric Bancel and Traian Muntean},
title = {Une méthode générique pour l'injection de fautes dans les circuits},
booktitle = {Actes des 9èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique},
isbn = {978-2-9527172-0-5},
note = {ISBN : 978-2-9527172-0-5},
year = {2006},
month = {May}
}